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    021-58211083
    PRODUCTS CENTER

    產(chǎn)品中心

    當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心zeta電位儀Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
    Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

    Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小

    產(chǎn)品型號(hào):
    更新時(shí)間:2025-04-02
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    訪問量:7919
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    • Zeta電位測(cè)試

    測(cè)試范圍

    -500mv ~ 500mv

    粒度范圍

    1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

    樣品池容積

    400μl

    測(cè)試原理

    ELS(電泳光散射)

    散射角

    15 度

     大濃度

     40% w/v

    相關(guān)器

    1000通道線性相關(guān)器

    電導(dǎo)率范圍

    200 mS/cm
    • 粒度分布測(cè)試

    粒度測(cè)試范圍

    1-9500nm(與樣品有關(guān))

    測(cè)試原理

    DLS( 動(dòng)態(tài)光散射)

    重復(fù)性誤差

    1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

    相關(guān)器

    1000 個(gè)物理通道

    準(zhǔn)確性誤差

    1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

    光源

    固體激光器

    樣品池容積

    1ml / 4ml

    激光器波長(zhǎng)

    671nm

    樣品池溫控范圍

    1590

    激光器功率

    50mW

    溫控精度

    ±0.2

    散射角

    90 

    • 分子量測(cè)試 

    分子量范圍

    1000Da2x107Da

    準(zhǔn)確性誤差

     10%

    測(cè)試原理

    SLS(靜態(tài)光散射)

    重復(fù)性誤差

     5%

    三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

            包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

    四、突出特點(diǎn)

    • BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。
    • 納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
    • 分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

    五、良好的重復(fù)性

    • 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
    • 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
    • 高精度樣品池定位組件

    六、良好的準(zhǔn)確性

    • 粒度測(cè)試準(zhǔn)確性:用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。
    • Zeta 電位測(cè)試準(zhǔn)確性:用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。
    • 分子量測(cè)試
     

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